Zum Werk

Für alle Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung (EEP) bietet das neue Werk zielorientierte Methodiken zum Bestehen der EEP in den Teilen A, B, C und D. Alle prüfungsrelevanten Themen sind in deutscher und englischer Sprache synoptisch dargestellt. Besonderes Gewicht wird auf inhaltlich gut strukturierte Hilfestellungen gelegt.

Besonders hilfreich: Immer dort, wo es für die Methodiken nötig ist, sind auch patentrechtliche Grundlagen erläutert. Dabei wird jeweils auf Gesetze, Rechtsprechung und Prüfungsrichtlinien verwiesen.

Vorteile auf einen Blick

SchrittfürSchritt Vorgehensweisen

Zeitangaben pro Bearbeitungsschritt

Details der Punktevergabe

Prüfungsschemata für patentrechtliche Fragen

Formulierungsvorschläge und ganze Textpassagen

Tabellen als Bearbeitungshilfen

praktische Tipps für die Prüfung

Zielgruppe:



Für Teilnehmer der Europäischen Eignungsprüfung.